Elektronenmikroskope REM & TEM inkl. EDX (Fa. Zeiss, Fa. Jeol)
Messgröße: Morphologie, Partikelgröße, elementare Zusammensetzung (offline)
Größenbereich: >10 nm
Materialbeschränkung: feste Partikelmaterialien, keine Restfeuchte oder flüchtige Komponenten
Im Ultrahoch-Vakuum können mittels elektronenmikroskopischer Analytik Morphologien, Partikelgrößen und elementare Zusammensetzung (EDX) untersucht werden.